DIN 50446-1995 半导体工艺材料的检验.硅晶体外延层缺陷种类和缺陷密度的测定
时间:2024-05-02 18:54:41 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8853
【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology-Determinationofdefecttypesanddefectdensitiesofsiliconepitaxiallayers
【原文标准名称】:半导体工艺材料的检验.硅晶体外延层缺陷种类和缺陷密度的测定
【标准号】:DIN50446-1995
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1995-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;试验;材料试验;材料;晶体缺陷;外延层;半导体;缺陷与故障;定义;矽;外延片;半导体工艺
【英文主题词】:Crystaldefects;Defects;Definition;Definitions;Epitaxiallayers;Epitaxialslices;Materials;Materialstesting;Semiconductortechnology;Semiconductors;Silicon;Testing
【摘要】:Thedocumentspecifiesmethodsfordeterminationofdefecttypes,especiallycrystaldefects,anddefectdensitiesofsiliconepitaxiallayerswithathicknessof0,5?#,,#
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:10P;A4
【正文语种】:德语
【英文标准名称】:TDMAThirdGenerationWireless-EnhancedGeneralPacket-DataService(EGPRS-136)
【原文标准名称】:TDMA第三代无线系统.加强型通用数据包业务(EGPRS-136)
【标准号】:ANSI/TIA/EIA136-370-2001
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2001
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:数据交换;无线通信业务;电信;远程通信
【英文主题词】:wirelesscommunicationservices;telecommunications;telecommunication;dataexchange
【摘要】:IntegratesTIA/EIA-136airinterfacewiththeGPRSasspecifiedbyETSIand3GPP.Thisstandardwaslistedforpublicreviewinthe8/25/2000issueofStandardsAction.Itisbeingresubmittedduetosubstantivechangestothetext.
【中国标准分类号】:M11
【国际标准分类号】:33_070_50
【页数】:
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Componentsforelectronicequipment.Magneticcoresandaccessories.Accessoriesforferritecores.
【原文标准名称】:电子设备元件.磁芯和附件.铁芯用附件
【标准号】:NFC93-336-1983
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1983-09-01
【实施或试行日期】:1983-09-29
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分类系统;分类;磁路;连接;电子设备及元件;尺寸;电子元部件;磁芯;磁性铁氧体;图表;名称与符号;铁酸盐;磁性合金;通信设备;连接工艺
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L19
【国际标准分类号】:29_100_10
【页数】:10P;A4
【正文语种】:其他